Metrologie SEM+FIB-systeem
- Opdrachtgever
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Type opdracht
- Leveringen
- Procedure
- Aankondiging
- Publicatiedatum
- 3 nov. 2026
- Sluitingsdatum
- 7 sep. 2026
- Locatie
- Onbekend
- Geraamde waarde
- Onbekend
- CPV-code
- 3171200038900000
Samenvatting
Deze aanbesteding betreft de levering van een metrologie-systeem met gefocusseerde ionenbundel en scanning-elektronenmicroscoop (FIB/SEM) voor de Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO. Het systeem is bedoeld voor materiaalbewerking door middel van frezen of snijden, driedimensionale karakterisering en dwarsdoorsnedeanalyse. De werkzaamheden richten zich op epitaxiaal gegroeide lagen van InP, InGaAs, InAlGaAs en InGaAsP op InP-substraten. De onderzochte structuren kunnen daarnaast polymeren voor planariseerlagen, diëlektrische lagen van SiOx of SiNx en metaal lagen van TiPtAu of NiGeAu bevatten. De opdracht is een levering; de beschikbare informatie vermeldt geen geschatte waarde of locatie. Inschrijvingen moeten uiterlijk op 7 september 2026 om 10.00 uur worden ingediend.
Sluit een abonnement af voor de AI-analyse
Met een abonnement van TenderCourant stel je zoekprofielen in die dagelijks de beste tenders matchen aan jouw bedrijf — inclusief de codes die je op de hoogte houden van de nieuwste en kansrijkste opdrachten.
Daarnaast ondersteunt de redactie je bij het opzetten van tender-inszendingen en kun je sparren over een specifieke aanbesteding of om hulp vragen wanneer je vastloopt.
Al abonnee? Log in